HPE StoreFabric SN2700M - switch - 32 portar - Administrerad - rackmonterbar

HPE StoreFabric SN2700M - switch - 32 portar - Administrerad - rackmonterbar Q2F21A
Logga in för pris
Information
0 i lagerInleverans: 2024-04-22
Hewlett Packard EnterpriseTillverkareHewlett Packard EnterpriseArtnr
Q2F21A
ProduktbeskrivningHPE StoreFabric SN2700M - switch - 32 portar - Administrerad - rackmonterbar
Typ av enhetSwitch - 32 portar - L3 - Administrerad
ModellRackmonterbar 1U
Undertyp100 Gigabit Ethernet
Portar32 x 100 Gigabit QSFP28
PrestandaVäxlingskapacitet: 6,4 Tbps
Bearbetningshastighet: 9,52 Bpps
Genomslagslatens: 300 ns
Protokoll för administration på distansSNMP, Telnet, SSH, CLI
FunktionerIGMP snooping, portspegling, lagra och vidarebefordra, stöd för IPv6, stöd för snabbt trädspanningsprotokoll (RSTP), stöd för redundansprotokoll för virtuell rutt (VRRP), stöd för MSTP (Multiple Spanning Tree Protocol), stöd för byte av datacenterbrygga (DCBX), stöd för ACL (Access Control List), Quality of Service (QoS), Bidirectional Forwarding Detection (BFD), IPv4-support, LLDP-support, DHCP-relä, sFlow v5, 802.1x-autentisering, 16 MB paketbuffert, OpenFlow-support, Protokollbaserad VLAN-support, Storm Control, RDMA over Converged Ethernet (RoCE), random early detection (RED), Explicit Congestion Notification (ECN), Priority-Based Flow Control (PFC), Virtual Extensible LAN (VXLAN), Multi Chassis Link Aggregation Group (MLAG), Open Shortest Path First (OSPF), Root Guard, Loop Guard, Voice VLAN, Top-of-Rack (ToR), STP BPDU Guard, BPDU Filter, Protocol Independent Multicast (PIM), fack för hotswapfläkt
Standarder som följsX.509
StrömtillförselAC 120/230 V (50/60 Hz)
Redundant strömJa
Dimensioner (BxDxH)42.78 cm x 68.6 cm x 4.39 cm
Vikt11.1 kg
Tillverkarens garanti3 års garanti
Designat förHPE J2000; Apollo 4200, 4200 Gen10

 

 
Kundvagn
Visa priser inkl moms
Varor: 0 stSumma: 0 kr
 Stäng   X
Uppgifter om hur vi behandlar de personuppgifter om dig som finns hos oss och om vilka rättigheter du har enligt dataskyddslagstiftningen. read more