HPE Ultrium Universal Cleaning Cartridge - LTO Ultrium x 1 - rengöringskassett

HPE Ultrium Universal Cleaning Cartridge - LTO Ultrium x 1 - rengöringskassett C7978A
Flera vinklar
Logga in för pris
Information
139 i lager
Hewlett Packard EnterpriseTillverkareHewlett Packard EnterpriseArtnr
C7978A
  • HPE LTO-8 Ultrium kan skriva eller läsa data med en hastighet på 2,7 TB/timme och lagra, kryptera och skydda upp till 30 TB på en enda kassett, vilket gör den idealisk för storskaliga, 24 x 7, verksamhetskritiska IT-miljöer (förutsätter 2,5:1-komprimering)
  • Band är mer tillförlitligt än SATA-diskar för företag. Med en BER på 1x10 upphöjt till 19 för LTO-8 jämfört med 1x10 upphöjt till 15 för Enterprise SATA HDD. Det är en skillnad i tillförlitlighet på fyra storleksordningar - t.ex. är band 10 000 gånger mer tillförlitliga än Enterprise SATA HDD
  • WORM-versionen (Write-Once-Read-Many) ger manipuleringssäker, kompatibel datalagring
  • Standardisering på HPE LTO Ultrium ger kapacitet att möta krympande backup-fönster, industristandard, AES 256-bitars kryptering (IEEE1619.1) och utbytbara RW- eller WORM-media; utan extra utrymme eller IT-resursoverhead
Även om HPE-medier är extremt tillförlitliga under en rad olika förhållanden, är det ändå lämpligt att följa en förnuftig procedur vid hantering och lagring av kassetter för att maximera livslängden på dina band. Många orsaker till inspelnings- eller läsfel är tillfälliga och kan åtgärdas genom rengöring av kassetten. Regelbunden rengöring av frekvensomriktaren är avgörande för långsiktig tillförlitlighet och bör utföras enligt en schemalagd cykel samt på begäran av frekvensomriktaren.

Denna Universal Ultrium-rengöringskassett är avsedd för användning med HPE Ultrium-enheter som levererats efter januari 2002 och för äldre enheter med en firmware-uppgradering.

 

 
Kundvagn
Visa priser inkl moms
Varor: 0 stSumma: 0 kr
 Stäng   X
Uppgifter om hur vi behandlar de personuppgifter om dig som finns hos oss och om vilka rättigheter du har enligt dataskyddslagstiftningen. read more